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NXP Semiconductors
ESD TESTER
PESD16VX1UL
Ultra low capacitance unidirectional ESD protection diode
4 GHz DIGITAL
RZ
450 Ω
RG 223/U
50 Ω coax
10 ×
OSCILLOSCOPE
ATTENUATOR
CZ
IEC 61000-4-2 network
C Z = 150 pF; R Z = 330 Ω
DUT
(DEVICE
UNDER
TEST)
50 Ω
GND
vertical scale = 2 kV/div
horizontal scale = 15 ns/div
unclamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
vertical scale = 2 kV/div
horizontal scale = 15 ns/div
GND
vertical scale = 50 V/div
horizontal scale = 15 ns/div
clamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network) pin1 to 2
vertical scale = 50 V/div
horizontal scale = 15 ns/div
GND
GND
unclamped ? 8 kV ESD pulse waveform
clamped ? 8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
(IEC 61000-4-2 network) pin 1 to 2
006aab952
Fig 5.
PESD16VX1UL_1
ESD clamping test setup and waveforms
? NXP B.V. 2009. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 01 — 16 December 2009
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